時(shí)序收斂一直是設(shè)計(jì)流程中備受關(guān)注的一個(gè)階段。時(shí)序收斂流程能多快完成可能決定著芯片是否能把握住關(guān)鍵的上市時(shí)機(jī)。為取得高良率的可正常工作的芯片,設(shè)計(jì)師必須對(duì)各種可能的時(shí)序情景加以分析,而在領(lǐng)先的工藝上時(shí)序情景的數(shù)量呈指數(shù)級(jí)增長(zhǎng),成為設(shè)計(jì)師們所面臨著的重大時(shí)序收斂挑戰(zhàn)之一。