1.帶阻尼行輸出管的檢測(cè)

　　用萬(wàn)用表R&TImes;1 Ω 檔，測(cè)量發(fā)射結(jié)（基極b 與發(fā)射極e 之間）的正、反向電阻值。正常的行輸出管，其發(fā)射結(jié)的正、反向電阻值均較小，只有20～50 Ω。

　　用萬(wàn)用表R&TImes;1 kΩ 檔，測(cè)量行輸出管集電結(jié)（基極b 與集電極c 之間）的正、反向電阻值。正常時(shí)，正向電阻值（黑表筆接基極b，紅表筆接集電極c）為3～10 kΩ，反向電阻值為無(wú)窮大。若測(cè)得正、反向電阻值均為0 或均為無(wú)窮大，則說明該管的集電結(jié)已擊穿損壞或開路損壞。

　　用萬(wàn)用表R&TImes;1 kΩ 檔，測(cè)量行輸出管c、e 極內(nèi)部阻尼二極管的正、反向電阻值，正常時(shí)正向電阻值較?。?～7 kΩ），反向電阻值為無(wú)窮大。若測(cè)得c、e 極之間的正、反向電阻值均很小，則是行輸出管c、e 極之間短路或阻尼二極管擊穿損壞；若測(cè)得c、e 極之間的正、反向電阻值均為無(wú)窮大，則是阻尼二極管開路損壞。

　　帶阻尼行輸出管的反向擊穿電壓可以用晶體管直流參數(shù)測(cè)試表測(cè)量，其方法與普通晶體管相同。

　　帶阻尼行輸出管的放大能力（交流電流放大系數(shù)β 值）不能用萬(wàn)用表的hFE 檔直接測(cè)量，因?yàn)槠鋬?nèi)部有阻尼二極管和保護(hù)電阻器。測(cè)量時(shí)可在行輸出管的集電極c 與基極b 之間并接1 只30 kΩ的電位器，然后再將行輸出管各電極hFE 插孔連接。適當(dāng)調(diào)節(jié)電位器的電阻值，并從萬(wàn)用表上讀出β值。

　　2.帶阻晶體管的檢測(cè)

　　因帶阻晶體管內(nèi)部含有1 只或2 只電阻器，故檢測(cè)的方法與普通晶體管略有不同。檢測(cè)之前應(yīng)先了解電阻器的阻值。

　　測(cè)量時(shí)，將萬(wàn)用表置于R&TImes;1 kΩ 檔，測(cè)量帶阻晶體管集電極c 與發(fā)射極e 之間的電阻值（測(cè)NPN管時(shí)，應(yīng)將黑表筆接c 極，紅表筆接e 極；測(cè)PNP 管時(shí)，應(yīng)將紅表筆接c 極，黑表筆接e 極，正常時(shí)，阻值應(yīng)為無(wú)窮大，且在測(cè)量的同時(shí)，若將帶阻晶體管的基極b 與集電極c 之間短路后，則應(yīng)有小于50 kΩ的電阻值。否則，可確定為晶體管不良。

　　也可以用測(cè)量帶阻晶體管b、e 極，c、b 極及c、e 極之間正、反向電阻值的方法（應(yīng)考慮到內(nèi)含電阻器對(duì)各極間正、反向電阻值的影響）來估測(cè)晶體管是否損壞。